(6路12路斷口選擇,可增配合閘電阻測(cè)量功能,石墨觸頭斷口測(cè)量,雙端接地?cái)嗫跍y(cè)量,多路傳感器測(cè)試,激光傳感功能)
1.時(shí)間測(cè)量:
12路固有分閘(合閘)時(shí)間
分閘(合閘)相內(nèi)不同期
分閘(合閘)相間不同期之差
合閘(分閘)彈跳時(shí)間(彈跳次數(shù))
內(nèi)觸發(fā)測(cè)試范圍:0.01ms~20s,分辨率:0.01ms,
外觸發(fā)測(cè)試范圍:0.01ms~200s,分辨率:0.1ms,
在1000ms以?xún)?nèi)準(zhǔn)確率:0.1%±1個(gè)字
2.速度測(cè)量:
剛分(剛合)速度
時(shí)間段(行程段或角度段)平均速度
3. 測(cè)速范圍:
1mm傳感器 0.01~25.00m/s,
0.1mm傳感器 0.001~2.50m/s
0.5°角度傳感器 1周波/ 0.5°
4.行程測(cè)量:
動(dòng)觸頭行程(行程)
接觸行程(開(kāi)距)
過(guò)沖行程或反程(超程)
直線傳感器:50mm,分辨率:0.1mm,測(cè)量范圍:0-50mm.
360線傳感器:360о,分辨率:0.5о,測(cè)量范圍:0-1000mm.
加速度傳感器測(cè)量范圍:0-300mm,分辨率:0.1mm
5. 電流顯示:
電流30A,(可定制)分辨率:0.01A。
6.儀器電源:
AC/DC 220V ± 10%;50Hz ± 2%
7.內(nèi)部直流電源:
輸出DC20~260V連續(xù)可調(diào),DC110V≤30A(短時(shí)),DC220V≤ 20A(短時(shí))。
8. 外觸發(fā)觸發(fā)電壓:AC/DC10-300V,電流≤120A
9. 隔離開(kāi)關(guān)測(cè)量范圍:
⑴、電壓輸出:DC20~260V(可調(diào));
⑵、電源輸出時(shí)間:0.01-20秒(可設(shè)置);
⑶、斷口信號(hào)大采集時(shí)間為200秒;
⑷、可測(cè)斷口合、分閘時(shí)間、三相不同期、彈跳時(shí)間及次數(shù)
儀器界面介紹
儀器采用超大高清晰液晶顯示器,開(kāi)機(jī)后,顯示試驗(yàn)項(xiàng)目:常規(guī)試驗(yàn)、重合閘試驗(yàn)、低電壓試驗(yàn)
圖1
一共有三種試驗(yàn)可供選擇:常規(guī)試驗(yàn)、重合閘試驗(yàn)、低電壓試驗(yàn)。默認(rèn)為常規(guī)試驗(yàn),按下面板上的 “確認(rèn)”按鈕后,進(jìn)入常規(guī)試驗(yàn)界面,如圖2所示。
圖2
屏幕上方顯示的是部分試驗(yàn)設(shè)置信息以及日期時(shí)間顯示。
屏幕左下方顯示的是目前斷口的實(shí)時(shí)狀態(tài)。HDGK雙端接地?cái)嗦菲鲃?dòng)特性測(cè)試儀
光標(biāo)默認(rèn)顯示在“測(cè)試”上。
通過(guò)面板上的左、右箭頭按鍵,可以將光標(biāo)移到“設(shè)置”或“重算”上HDGK雙端接地?cái)嗦菲鲃?dòng)特性測(cè)試儀
可以使用鍵盤(pán)上的上箭頭“↑”或下箭頭“↓”來(lái)選擇需要修改的配置,當(dāng)前可修改的配置立刻會(huì)變成黑白反色光標(biāo)顯示,然后用左箭頭“←”或右箭頭“→”來(lái)更改所選的配置值。所有修改完成之后,按下鍵盤(pán)上的“退出”按鍵就修改成功了。返回后,光標(biāo)會(huì)停到“測(cè)試”上。按下鍵盤(pán)上的“確認(rèn)”按鈕,就可以根據(jù)剛才的試驗(yàn)配置來(lái)進(jìn)行開(kāi)關(guān)試驗(yàn)。此時(shí),界面如圖3所示。
圖3
顯然,目前斷口狀態(tài)為合閘,儀器會(huì)自動(dòng)識(shí)別并提示,需要做分閘試驗(yàn),故顯示的是“開(kāi)始分閘”。完成分閘試驗(yàn)后,需要做合閘試驗(yàn),界面如圖4所示。
圖4
這樣,就完成了一次分合試驗(yàn),之后界面如圖5所示:HDGK雙端接地?cái)嗦菲鲃?dòng)特性測(cè)試儀
圖5
斷口波形、S-t曲線以及各種試驗(yàn)結(jié)果將顯示在以上界面中。
如果按下右箭頭“→”或左箭頭“←”,還可以看到更多的試驗(yàn)數(shù)據(jù),例如:相內(nèi)同期、相間同期等。如果按下下箭頭“↓”或上箭頭“↑”,可以選擇觀察分閘數(shù)據(jù)或打印整個(gè)試驗(yàn)數(shù)據(jù)。例如,將光標(biāo)移到“打印”處,再按下“確認(rèn)”按鍵,那么打印機(jī)就會(huì)將本次試驗(yàn)數(shù)據(jù)打印出來(lái)。
對(duì)于重合閘試驗(yàn)以及低電壓試驗(yàn),操作方法與常規(guī)試驗(yàn)類(lèi)似,在此,不再敘述。
如果要在臺(tái)式電腦上分析試驗(yàn)數(shù)據(jù),可以在做試驗(yàn)時(shí),將U盤(pán)插入U(xiǎn)SB接口。做完試驗(yàn)后,按下“保存”。注意,某些劣質(zhì)U盤(pán)儀器可能無(wú)法識(shí)別,因此,*使用廠家所配置的U盤(pán)型號(hào)。
按面板上的“功能”鍵按鈕并確認(rèn)后,可以用于打開(kāi)以前保存到U盤(pán)中的測(cè)試數(shù)據(jù)。選擇“時(shí)鐘”選項(xiàng),可以用來(lái)調(diào)整儀器時(shí)鐘
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