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泰克BERTScope 誤碼率測試儀較快實現(xiàn) Gen4 *性。
自動化您的設(shè)備針對 Gen3 和 Gen4 標準(如 PCIe、SAS、USB3.1 和高達 32 Gb/s 的其他標準)的*性測試。 我們完善的解決方案可讓您輕松對標準中的大量測試用例進行準確且可重復的測量。
全新 BSX 系列可提供行業(yè)內(nèi)復雜位錯誤分析程序,以捕獲和存儲每個錯誤的上下文(時序和位位置)。 執(zhí)行與錯誤相關(guān)的快速根本原因分析并提供可操作見解,您無需費神和擔憂。
觀察設(shè)備對環(huán)回和鏈路調(diào)訓測試用例的響應。 憑借用戶可配置握手協(xié)議和內(nèi)置 4 抽頭均衡器支持的*性測試,您可以毫不費力地將 DUT 設(shè)為環(huán)回模式,或完成鏈路調(diào)訓流程。
型號 | 通道 | 大數(shù)據(jù)速率 | 排序器狀態(tài)/電平 | 在線購買 | 價格 |
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BSX125 | 1 | 12.5 Gb/s | 128/2 | - | 配置與報價 |
BSX240 | 1 | 24 Gb/s | 128/2 | - | 配置與報價 |
BSX320 | 1 | 32 Gb/s | 128/2 | - | 配置與報價 |
* 價格:價格如有變更,恕不另行通知。
泰克BERTScope 誤碼率測試儀
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