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TH2825A型高速LCR數字電橋

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產品型號

品       牌

廠商性質生產商

所  在  地深圳市

更新時間:2022-05-07 09:30:02瀏覽次數:20次

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TH2825A型高速LCR數字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能, 可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。

TH2825A型高速LCR數字電橋

 TH2825A型高速LCR數字電橋是本公司重點推出的新一代元件參數測試儀器。該產品可提供高達15ms/次的測量速度、50Hz100kHz十點測試頻率、以1mV步進的0.01V-1.0V可編程信號電平、5位讀數分辨率、多種源內阻選擇和強大的測試功能, 可滿足生產線質量保證、進貨檢驗及元件設計和評估的測量要求。

高速測量

■ 本產品運用了元件測試領域的技術,測試能力可達到甚至超越Agilent 4363B的水平,提供了的zui高測量速度15ms/次,尤其是解決了*困擾測試部門低頻測試速度慢的難題,為低頻元件如電解電容器、變壓器的高速測試提供了解決方案。

多種可選的信號源阻抗模式

 不同LCR表由于輸出阻抗的不同可能得到不同的測試結果,TH2825A提供五種可選的阻抗模式以適應不同的需要,保證不同儀表間測試結果的*性。

恒電平模式適用于多層陶瓷電容器(MLCC)的測量

 陶瓷電容器(MLCC)對測試信號電平極為敏感,TH2825A能以恒定的高電平測試信號高速測量大容量陶瓷電容器,允許在恒定1kHz/1Vrms條件下對高達30μF的MLCC進行測試,100Hz測量可對300μF電容器提供恒定的1Vrms測試信號。

強大的變壓器測試能力

 TH2825A具備變壓器測試能力,使用專門的變壓器測試夾具,無須改變測試線方式便可方便地測量匝數比(N, 1/N)、互感(M)、初次級電感(LA、LB),初次級直流電阻(DCR2)。有-5V-5V偏置電壓(僅TH2825A),可方便地用于通訊變壓器和小功率扼流圈的測試。

 該產品提供的HANDLER、GPIB接口及GPIB接口命令與Agilent

與儀表的接口兼容性

TH2825A型高速LCR數字電橋技術參數:

型號

TH2825A

顯示器

240x64點陣LCD顯示器,5位讀數分辨率

測試參數

LCR 參數

|Z|,R, X, G, B, C, L, Q, D, θ(deg),θ(rad),DCR

變壓器參數

DCR,DCR2,M, N,1/N,LA,LB

測試頻率

50Hz,60Hz,100Hz,120Hz,1kHz,10kHz,20kHz, 40kHz, 50kHz,100kHz, 共10點

測試電平

10mVrms-1.0 Vrms, 1mV 步進<200mV 10mV 步進≥200mV

信號源內阻

25Ω,100Ω, 25Ω/100Ω,C. V.(恒壓)

DC偏置電流(≥1kHz)

當100Ω內阻時,±50mA Max當25Ω內阻時,±200mA Max

基本測量準確度

0.1%

 

|Z|, R, X

0.01 mΩ — 99.99MΩ

 

G, B

0.0001μS — 999.99 S

 

C

0.001pF — 1.9999 F

 

L

0.001μH — 99.9999 kH

 

Q

0.0001 — 9999

顯示范圍

D

0.0001 — 9999

θ(DEG)

-180.00° — 180.00°

 

θ(RAD)

-3.1415 — 3.1415

 

Δ%

-999.99% — 999.99%

 

Turns Ratio

0.001—9999.9

 

DCR

0.1 mΩ—99.99 MΩ

 

M,L2

0.001μH—99.99 kH

測量速度(≥100Hz)

快速:15ms(注1),中速:66ms, 慢速:500ms

等效電路

串聯, 并聯

量程方式

自動, 保持/手動切換

觸發(fā)方式

內部, 手動, 外部,總線

平均次數

1—255

校準功能

開路, 短路, 負載校正

測量端

5端

顯示方式

直讀,ΔABS,Δ%,V/I(電壓/電流監(jiān)示) , 檔號及檔計數

列表掃描

4點頻率, 電平列表掃描測試

比較器功能

九檔(八檔合格,一檔不合格)

上超/合格/下超比較器

存儲器

12組內部儀器設定供存儲/調用

接口

RS-232C, HANDLER, GPIB (選件)

 

4263B*兼容,為與4263B的互換提供了良好的條件。

 

注1:快速測試時間包括A/D、計算、主/副參數小字符顯示比較判別。若包括測試參數大字符顯示,zui快測試時間另加5ms。

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