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更新時(shí)間：2022-05-15 14:00:03瀏覽次數(shù)：35次

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奧林巴斯光學(xué)顯微鏡: 奧林巴斯金相顯微鏡奧林巴斯立體顯微鏡奧林巴斯偏光顯微鏡奧林巴斯半導(dǎo)體顯微鏡奧林巴斯測(cè)量顯微鏡奧林巴斯紅外顯微鏡材料圖像分析軟件

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可對(duì)裸眼不可見的區(qū)域進(jìn)行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對(duì)半導(dǎo)體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進(jìn)行無損的CPS bumps觀察

詳情介紹

奧林巴斯BX53M IR紅外觀察顯微鏡

IR物鏡可用于透過硅材料成像，進(jìn)行半導(dǎo)體檢查和測(cè)量。配備了5倍到100倍紅外（IR）物鏡，提供了從可見光波長(zhǎng)到近紅外的像差校正。對(duì)于高放大倍率的物鏡，配備了LCPLN-IR系列帶校正環(huán)的物鏡，校正由樣品厚度導(dǎo)致的像差。使用一個(gè)物鏡即可獲取清晰的圖像。

紅外顯微鏡應(yīng)用