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  • 奧林巴斯紅外顯微鏡BX53M IR

    可對裸眼不可見的區(qū)域進行無損的檢查和分析,以及近紅外觀察特化的顯微鏡。能對半導體晶片內(nèi)部和集成電路組件背面進行無損的CPS bumps觀察

    型號: 所在地:蘇州市參考價: 面議更新時間:2022/5/15 14:00:03 對比
    紅外顯微鏡奧林巴斯紅外顯微鏡BX53M IR顯微鏡金相顯微鏡半導體紅外顯微鏡

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