TC26新款三厘米波導(dǎo)測量線
一、.TC26新款三厘米波導(dǎo)測量線概述
TC26型新款三厘米波導(dǎo)測量線，可供科學(xué)研究單位、高等學(xué)校和工廠實驗室用來測量三厘米波段電壓駐波比、阻抗和其他微波參數(shù)。.TC26新款三厘米波導(dǎo)測量線為《SJ944-75四機部電子儀器環(huán)境要求及試驗方法》**組。
二、.TC26新款三厘米波導(dǎo)測量線技術(shù)參數(shù)
1、工作頻率范圍：8.2～12.4GHz
2、在測量≤2駐波比晶體為平方律檢波時，由于不平穩(wěn)度，剩余駐波和探針分流電導(dǎo)所引入的總誤差δ≤ 5 %。其中：
（1）探針穿伸為1.5mm時，測量線指示的不平穩(wěn)度誤差δ1 ≤±2.5％。
（2）測量線固有的剩余駐波比所引入的誤差δ2 ≤ 3％。
（3）探針穿伸為1.5mm時，由于分流電導(dǎo)所引入的誤差δ3 ≤1％。
3、測量中檢波滑座的有效行程不短路90mm，定位讀數(shù)精度用游標(biāo)時0.02mm，用百分表時0.01mm。
4、波導(dǎo)截面尺寸：22.86mm×10.16mm
5、法蘭形式：為FB-84-220平板式法蘭盤，并符合（SJ213-66矩形與扁矩形波導(dǎo)管法蘭盤）規(guī)定。
6、外形尺寸：233mm×120mm×250mm。
三、.TC26新款三厘米波導(dǎo)測量線工作原理
圖1是TC 26型新款三厘米波導(dǎo)測量線工作原理示意圖。
當(dāng)測量線接入測試系統(tǒng)時，在它的波導(dǎo)中就建立起駐波電磁場。，駐波電場在波導(dǎo)寬邊正*大，沿軸向成周期函數(shù)分布。在矩形波導(dǎo)的寬邊于它軸的方向開一條狹槽，并且伸入一根金屬探針2，則探針與傳輸波導(dǎo)1電力線平行耦合的結(jié)果，必然得到感應(yīng)電壓，它的大小正比于該處的場強，交流電流在同軸線3組成的探針電路內(nèi)，由微波二極管4檢波后把信號加到外接指示器，回到同軸線外導(dǎo)體成一閉合回路。因此指示器的讀數(shù)可以間接表示場強的大小。
當(dāng)探針沿槽移動時，指示器就會出現(xiàn)Emax和Emin。從而求得：
S=
由標(biāo)尺指出探針位置可以測出極小點至不連續(xù)面的距離dmin，從而可以測量阻抗。調(diào)諧活塞5在檢波頭中起調(diào)諧的作用。檢波滑座6用來支持檢波頭，并可沿軸向移動。在移動時保證探針與波導(dǎo)的相對位置不變。
四、.TC26新款三厘米波導(dǎo)測量線結(jié)構(gòu)特征
1﹑圖4是TC26型新款波導(dǎo)測量線的結(jié)構(gòu)示意圖。它由線體﹑檢波頭﹑檢波滑座﹑傳動裝置﹑定位裝置和支架構(gòu)成。
（1） 線體：
線體是由U形槽體和蓋板鑲拼用螺釘緊固而成。波導(dǎo)尺寸的精度主要由U形槽體的加工給予保證，沿著線體的軸線在蓋板的開有一條狹槽，其寬度為1㎜，槽的兩端各有一個λg/4階梯變換的阻抗匹配段來減小槽端的反射，線體上蓋是采用鋼板作為傳動基準(zhǔn)面，以保證探針沿波導(dǎo)軸向位移的可靠﹑穩(wěn)定性，線體的兩端法蘭盤上有四個定位銷孔，以保證連接時的精度，法蘭為FB-84-220平板形式。
（2） 檢波頭：
檢波頭采用同軸型，結(jié)構(gòu)如圖5所示。檢波晶體裝在同軸線T形支路內(nèi)，調(diào)諧活塞是接觸式的，檢波頭下部有三孔的圓型法蘭盤，便于安裝在檢波滑座上傳動。檢波頭頂上的讀數(shù)套筒，可改變探針穿伸度至0～3㎜，并可以從讀數(shù)套筒上讀得其數(shù)值。
（3）檢波滑座：
滑座用來支持檢波頭，另一方面通過十個滾珠軸承，可在線體三個導(dǎo)向平面滑動組成的定位傳動系統(tǒng)，經(jīng)調(diào)整后各緊固螺釘不宜松動。為了防止高頻能量從線體的槽中輻射出來，在滑座的底面環(huán)繞舌套，周圍裝有一塊吸收體。
（4）傳動裝置
傳動裝置采用齒輪﹑齒條﹑嚙合方式進行。為了使檢波滑座來回移動不于過快，傳動旋鈕使用減速裝置，由于在光滑導(dǎo)軌上采用滾珠軸承，滾動摩擦力很小。因此檢波滑座移動比較輕便。
（5）標(biāo)尺﹑游標(biāo)﹑百分表：
標(biāo)尺﹑游標(biāo)﹑百分表及其調(diào)節(jié)螺釘是測量線的讀數(shù)裝置。
（6）支架：
用來支撐整個測量線所需的高度，從調(diào)節(jié)支架上四個螺頂來得到。
2﹑引起測試誤差的因素：
（1）機械結(jié)構(gòu)不完善：
由于滾珠軸承的銹蝕﹑徑向跳動﹑波導(dǎo)上蓋導(dǎo)向平面有灰塵和導(dǎo)向平面與波導(dǎo)軸線的不平行，齒輪與齒條嚙合時梗跳，沿線體移動時上下跳動，改變了探針深度和波導(dǎo)口軸線位置，從而改變了探針與主波導(dǎo)中電場的耦合情況，造成測試誤差。
（2）主波導(dǎo)固有的阻抗不連續(xù)：
由于主波導(dǎo)尺寸偏差﹑槽端反射﹑法蘭盤連續(xù)偏差或接觸不佳等因素造成阻抗不連續(xù)，引起主波的固有反射，因而產(chǎn)生測試誤差。
（3）探針分流作用的影響：
探針在主波導(dǎo)中檢出高頻信號，呈現(xiàn)一個分流電導(dǎo)，引起主波導(dǎo)中電場的變小造成測量誤差。
（4）主波導(dǎo)衰減的影響：
由于波導(dǎo)的電導(dǎo)有限，越槽輻射和接觸損耗等引起的測試誤差。
（5）晶體檢波器引入的誤差：
由于晶體檢波器的特性不一致，而且隨工作狀態(tài)而變化，用近似的平方律運算時引入的誤差。
（6）指示器引入的誤差：
測量駐波比時在指示器上兩次讀數(shù)就引入了指示器的誤差。
上述的誤差主要來源于前三項。
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