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日本理學(xué)Rigku XRD 車載式X射線-熒光光譜儀

產(chǎn)品二維碼
參   考   價(jià): 1500
訂  貨  量: ≥1 件
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 品牌:其他品牌
  • 產(chǎn)品類別:環(huán)境應(yīng)急監(jiān)測(cè)設(shè)備
  • 所在地:北京市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2023-09-26 12:53:11
  • 瀏覽次數(shù):8
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XRD

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

日本理學(xué)Rigku XRD MiniFlex具有600W功率,是其他臺(tái)式機(jī)的兩倍;高分辨、高精度、高信噪比;豐富的附件可供選擇,滿足廣泛應(yīng)用需要。Ultima IV 是多功能X射線衍射儀的*代表。平行光與聚焦光靈活轉(zhuǎn)換,Ultima IV X射線衍射儀可快速執(zhí)行多種不同測(cè)量。

詳情介紹

1.   MiniFlex

日本理學(xué)Rigku XRD MiniFlex具有600W功率,是其他臺(tái)式機(jī)的兩倍;高分辨、高精度、高信噪比;豐富的附件可供選擇,滿足廣泛應(yīng)用需要。

  安全設(shè)計(jì): 采用聯(lián)鎖裝置,在X射線開啟狀態(tài)下無法打開樣品室操作窗。在測(cè)試中如果指令樣品室解鎖,則快門關(guān)閉同時(shí)停止X射線。

  高分辨率: 入射和發(fā)散狹縫可選,為您提供所需的分辨率。

  高 精 度: 實(shí)時(shí)角度校正功能,大幅提高角度精度、強(qiáng)度等基本性能,得到高精度測(cè)試數(shù)據(jù)。

  高信噪比: 可以選配單色器,用于扣除熒光X射線背底,提高信噪比進(jìn)行高質(zhì)量數(shù)據(jù)測(cè)試。

  豐富附件: 一維高速探測(cè)器、6位樣品自動(dòng)轉(zhuǎn)換器、旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)、氣密樣品臺(tái)等

  應(yīng)  用: 石棉、游離氧化鈣等定量分析 工業(yè)原材料品質(zhì)管理、大學(xué)、科研等

    

2.  Ultima IV

快速

Ultima IV 是多功能X射線衍射儀的*代表。平行光與聚焦光靈活轉(zhuǎn)換,Ultima IV X射線衍射儀可快速執(zhí)行多種不同測(cè)量。

靈活

The Ultima IV 是當(dāng)今市場(chǎng)采用全自動(dòng)校準(zhǔn)的X射線衍射儀。CBO技術(shù)與自動(dòng)校準(zhǔn)相結(jié)合,使Ultima IV X射線衍射儀成為多功能應(yīng)用靈活系統(tǒng)。

在Ultima IV XRD 系統(tǒng)中, CBO 技術(shù)縮短了切換測(cè)角儀時(shí)花費(fèi)的時(shí)間,使日常用戶可以運(yùn)行兩組試驗(yàn)而無需重新設(shè)置系統(tǒng),可以減少經(jīng)常切換造成的磨損和光路損壞。

CBO 與自動(dòng)校準(zhǔn)相結(jié)合后功能如下:

  • 粉末衍射
  • 薄膜衍射
  • 小角散射
  • In-plane散射

Ultima IV: 快速 • 靈活 • 實(shí)用

   

 

3.  Smatlab

智能X射線衍射儀SmartLab系列,是性能的多功能的X射線衍射儀,它采用了理學(xué)CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance,一臺(tái)儀器可以智能進(jìn)行普通粉末樣品、液體樣品、納米材料、藥品、半導(dǎo)體、薄膜樣品測(cè)試。The SmartLab 高分辨衍射系統(tǒng)是全自動(dòng)模塊化XRD系統(tǒng)的代表。該系統(tǒng)配備了高分辨θ/θ閉環(huán)測(cè)角儀驅(qū)動(dòng)系統(tǒng),選配的in-plane 掃描臂、9kW轉(zhuǎn)靶發(fā)生器,全自動(dòng)光學(xué)系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)的測(cè)量。

  •主要特點(diǎn)

  智能X射線衍射儀SmartLab系列,可以廣泛應(yīng)用于各種材料結(jié)構(gòu)分析的各個(gè)領(lǐng)域。

  可以分析的材料包括:金屬材料、無機(jī)材料、復(fù)合材料、有機(jī)材料、納米材料、超導(dǎo)材料

  可以分析的材料狀態(tài)包括:粉末樣品、塊狀樣品、薄膜樣品、微區(qū)微量樣品

  主要的應(yīng)用有:

  1. 粉末樣品的物相定性與定量分析

  2. 計(jì)算結(jié)晶化度、晶粒大小

  3. 確定晶系、晶粒大小與畸變

  4. Rietveld定量分析

  5. 薄膜樣品分析,包括薄膜物相、多層膜厚度、表面粗糙度,電荷密度

  6. In-Plane裝置可以同時(shí)測(cè)量樣品垂直方向的結(jié)構(gòu)及樣品深度方向的結(jié)構(gòu)

  7. 小角散射與納米材料粒徑分布

  8. 微區(qū)樣品的分析

  技術(shù)參數(shù)

  • 1、X射線發(fā)生器功率為3KW、新型9KW轉(zhuǎn)靶

  • 2、測(cè)角儀為水平測(cè)角儀

  • 3、測(cè)角儀進(jìn)為1/10000度,精度測(cè)角儀(雙光學(xué)編碼、直接軸上定位)

  • 4、測(cè)角儀配程序式可變狹縫

  • 5、自動(dòng)識(shí)別所有光學(xué)組件、樣品臺(tái)

  • 6、CBO交叉光路,提供聚焦光路及高強(qiáng)度高分辨平行光路(帶Mirror)(

  • 7、小角散射測(cè)試組件(SAXS / Ultra SAXS)

  • 8、多用途薄膜測(cè)試組件

  • 9、微區(qū)測(cè)試組件、CBO-F微區(qū)光學(xué)組件

  • 10、In-Plane測(cè)試組件

  • 11、入射端Ka1光學(xué)組件

  • 12、高速探測(cè)器D/teX-Ultra(能量分辨率20%以下)

  • 13、二維面探PILATUS 100K/R(用于同步輻射環(huán)的探測(cè)器,可以接收直射X射線)

  • 14、智能的測(cè)量分析軟件SmartLab Guidance

  

    

日本理學(xué)Rigku XRD

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