沖擊試樣缺口投影儀利用光學(xué)投影方法將被測(cè)的沖擊試樣V或U型缺口與標(biāo)準(zhǔn)樣板圖比對(duì)，以確定被檢測(cè)的沖擊試樣缺口加工是否合格，操作簡便，檢查對(duì)。

還可用于機(jī)械零部件的外形輪廓、紡織物纖維、生物切片分析、工量刃具的檢驗(yàn)、儀表元件和半導(dǎo)體元件的投影檢測(cè)。滿足標(biāo)準(zhǔn)GB/T 229-2007 ASTM E23-2002a等技術(shù)要求。
對(duì)于夏比V型缺口沖擊試驗(yàn)，由于試樣V型缺口要求嚴(yán)格（試樣缺口深2mm、呈45°角且試樣缺口要求R0.25±0.025mm），故在整個(gè)試驗(yàn)過程中，試樣的V型缺口加工是否合格成了關(guān)鍵問題，如果試樣缺口的加工質(zhì)量不合格，那么其試驗(yàn)的結(jié)果是不可信的，特別是R0.25mm缺口的微小變化（其公差帶只有0.025mm），都會(huì)引起試驗(yàn)結(jié)果的陡跳，尤其是在試驗(yàn)的臨界值時(shí)會(huì)引起產(chǎn)品或報(bào)廢或合格兩種截然相反的結(jié)果。為保證加工出的夏比V型缺口合格，其缺口的加工質(zhì)量檢驗(yàn)是一個(gè)重要的質(zhì)量控制手段。用光學(xué)投影放大檢查是切實(shí)可行并能保證檢查質(zhì)量的方法。CST-50型沖擊試樣缺口投影儀是我公司根據(jù)日前國內(nèi)廣大用戶的實(shí)際需求和GB/T229-2007《金屬材料夏比缺口沖擊試驗(yàn)方法》中對(duì)沖擊試樣缺口的要求而設(shè)計(jì)、開發(fā)的一種專用于檢查夏比V型和U型沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的專用光學(xué)儀器。
本投影儀發(fā)出的光線經(jīng)聚光鏡照射到被測(cè)物，再經(jīng)物鏡將被照射物體放大的輪廓投射在投影屏幕上。根據(jù)實(shí)際需要，本儀器為單一投射照明，光源通過一系列光學(xué)元件投射在工作臺(tái)上，再通過一系列光學(xué)元件將被測(cè)試樣缺口輪廓清晰的投射到投影屏上。物體經(jīng)二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的圖形與實(shí)際試樣放置的方向一致。
1、放大倍數(shù)：50倍；
2、投影屏直徑：200mm；
3、工作臺(tái)尺寸：
方工作臺(tái)：110×125mm
圓工作臺(tái)：90mm
工作臺(tái)玻璃直徑：70 mm；
4、工作臺(tái)行程：縱向：10 mm；橫向：10 mm；升降：12 mm（無刻度）；
5、工作臺(tái)轉(zhuǎn)動(dòng)范圍：0—360°；
6、儀器放大倍率：50×
物鏡放大倍率：2.5×
投影物鏡放大倍率：20×；
7、光源（鹵鎢燈）：12V/100W；
8、電源：220V/150W；
9、外形尺寸：510×220×600mm（長×寬×高）；
10、重量：約20kg
CST-50夏比沖擊缺口投影儀使用注意事項(xiàng)
1.安置儀器的工作環(huán)境應(yīng)保持清潔，避免有害氣體、灰塵和油霧、遠(yuǎn)離熱源。工作溫度應(yīng)保持在20—35℃之間，空氣中的相對(duì)濕度應(yīng)不0超過50%，否則對(duì)高盛投影儀光學(xué)部件和金屬鍍膜層有不良影響，破壞成像質(zhì)量。禁止在投影機(jī)附近吸煙。
2.小心輕放,注意防震。
3.為保證成像清晰，高盛投影儀應(yīng)放置在無日光或其它雜光折射投影屏的地方。
4.透鏡、投影屏應(yīng)經(jīng)常保持清潔，其表面避免用手觸碰，避免灰塵和油污。
5.儀器外露運(yùn)動(dòng)部分機(jī)件要定期用汽油清洗，涂以適量的潤滑油。
6.關(guān)機(jī)后勿實(shí)時(shí)開動(dòng)。又關(guān)又開，投影機(jī)里最值錢的燈泡經(jīng)常受電壓沖擊，壽命可能會(huì)大大縮短，因此在關(guān)機(jī)后約5分鐘才再開機(jī)。
7.用后散熱，不要一用完就立刻拔出投影機(jī)的插頭離開。將投影機(jī)繼續(xù)插在電源上，大部分機(jī)種會(huì)在這時(shí)繼續(xù)開動(dòng)風(fēng)扇，為燈泡散熱，故在關(guān)機(jī)后一段時(shí)間后才切斷電源。
8.用戶不可自行維修和打開機(jī)體，零件更換盡量使用原配件,如有問題及時(shí)聯(lián)系生產(chǎn)廠家。
9.儀器一定要接好地線，確保安全。