實驗室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房是針對高性能電子產(chǎn)品（如：計算機整機，顯示器，終端機，車用電子產(chǎn)品，電源供應(yīng)器，主機板、監(jiān)視器、交換式充電器等）仿真出一種高溫、惡劣環(huán)境測試的設(shè)備，是提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性的重要實驗設(shè)備、是各生產(chǎn)企業(yè)提高產(chǎn)品質(zhì)量和競爭性的重要生產(chǎn)流程，該設(shè)備廣泛應(yīng)用于電源電子、電腦、通訊、生物制藥等領(lǐng)域。根據(jù)不同的要求配置主體系統(tǒng)、主電系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、溫度控制系統(tǒng)、風力恒溫系統(tǒng)、時間控制系統(tǒng)、測試負載等，通過此測試程序可檢杳出不良品或不良件，是客戶迅速找出問題、解決問題提供有效手段，充分提高客戶生產(chǎn)效率和產(chǎn)品品質(zhì)

實驗室設(shè)備生產(chǎn)廠家 高溫老化房技術(shù)參數(shù)：

1、內(nèi)容積:6M3、8M3、10M3、12M3、15M3、18M3、20M3、30M3、50M3、(除了這些容積，更大或者更小的均可來電定制）

2、內(nèi)室尺寸與外型尺寸：以客戶的測試件所需尺寸或場地等需求定制合理的內(nèi)外尺寸，建議雙方電談或者面談了解清楚實際需求再確定具體所需尺寸，能有效節(jié)約成本及滿足實際需要。

3、溫度范圍：RT～85 ℃或更高請致電說明。

4、（單/雙)開門選擇，如雙：W（800+800）mm×H1900mmW；（ 可依客戶要求選擇或定制）

5、滿足標準：GB/T 5170.2-2008 溫度試驗設(shè)備、GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007) 高溫試驗方法Bb、GJB150.3-1986   高溫試驗、GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗方法、GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗。

6、工作噪音：A聲級≤70dB(A) (在環(huán)溫25℃，回聲少的隔音室內(nèi)測得；采用A計權(quán)，測試8個點的平均值；各測試點水平離噪音源1米、高度離地面1米)

7、溫度波動：溫度：≤±0.5℃  （指控制器設(shè)定值和控制器實測值之差）

8、溫度均勻度：溫度：≤2.0℃（均勻度為每次空載測試中實測高溫度和低溫度之差的算術(shù)平均值）

9、溫度升溫時間：約40min

10、電源：AC380V，三相四線＋保護地線。