概述:
深圳市方源儀器有限公司—英國(guó)牛津儀器中國(guó)總代理商!帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀CMI165是一款測(cè)量精確簡(jiǎn)易與質(zhì)量可靠的手持式鍍層測(cè)厚儀。它可測(cè)試高/低溫的PCB銅箔,專為PCB銅箔制造商設(shè)計(jì)。該儀器人性化的設(shè)計(jì)、堅(jiān)固耐用的世界帶溫度補(bǔ)償功能,以確保測(cè)量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響,儀器配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性;配備探頭照明方便測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位。 另有耗材——SRP-T1面銅探頭銷售。
帶溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)厚儀CMI165產(chǎn)品特點(diǎn):
① -- 可測(cè)試高溫的PCB銅箔
② -- 顯示單位可為mils,μm或oz
③ -- 可用于銅箔的來料檢驗(yàn)
④ -- 可用于蝕刻或整平后的銅厚定量測(cè)試
⑤ -- 可用于電鍍銅后的面銅厚度測(cè)試
⑥ -- 配有SRP-T1,帶有溫度補(bǔ)償功能的面銅測(cè)試頭
⑦ -- 可用于蝕刻后線路上的面銅厚度測(cè)試
⑧ --用戶可自行選擇自動(dòng)、連續(xù)、手動(dòng)測(cè)量模式
⑨ --SRP-1探針保護(hù)罩,照明功能便于測(cè)量時(shí)準(zhǔn)確定位
⑩ --SRP-1可由客戶自行替換,替換后無需校準(zhǔn)即可使用
11 --儀器內(nèi)存容量大,可儲(chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果
技術(shù)參數(shù):
一直以來,面銅測(cè)量的結(jié)果往往受到樣品溫度的影,牛津儀器工業(yè)分析部研發(fā)的SRP-T1探頭,綜合運(yùn)用微電阻原理及溫度補(bǔ)償技術(shù),使其成為世界上推出帶溫度補(bǔ)償功能的銅箔測(cè)厚儀的制造商。確保測(cè)量結(jié)果精確而不受銅箔溫度的影響。這款多用途的手持式測(cè)厚儀配有探針防護(hù)罩,確保探針的耐用性,即使在惡劣的使用條件下也可以照常進(jìn)行檢測(cè)。
--利用微電阻原理通過四針式探頭進(jìn)行銅厚測(cè)量,符合EN 14571測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
--厚度測(cè)量范圍:化學(xué)銅:(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
電鍍銅:(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
--儀器再現(xiàn)性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
--強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)分析功能,包括數(shù)據(jù)記錄平均數(shù)、標(biāo)準(zhǔn)差和上下限提醒功能。
--數(shù)據(jù)顯示單位可選擇mils、μm或oz
--儀器的操作界面有英文和簡(jiǎn)體中文兩種語言供選擇
--儀器無需特殊規(guī)格標(biāo)準(zhǔn)片,同樣可實(shí)現(xiàn)蝕刻后的線型銅箔的厚度測(cè)量,可測(cè)線寬范圍低至0.2 mm
--儀器可以儲(chǔ)存9690條檢測(cè)結(jié)果(測(cè)試日期時(shí)間可自行設(shè)定)
--測(cè)試數(shù)據(jù)通過USB2.0實(shí)現(xiàn)高速傳輸,也可保存為Excel格式文件
--儀器為工廠預(yù)校準(zhǔn)
--客戶可根據(jù)不同應(yīng)用靈活設(shè)置儀器
--用戶可選擇固定或連續(xù)測(cè)量模式
--儀器使用普通AA電池供電
中國(guó)代理商:深圳市方源儀器有限公司
地址:深圳市南山區(qū)登良路62號(hào)南園綜合樓5樓 地址:上海市閔行區(qū)申濱路1051弄140號(hào)1101室
: 86372601 86372660 : 54888372
: fyyq@vip.163.com : fyyq@vip.163.com
相關(guān)產(chǎn)品
- CMI155金屬基體上涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI157手持式金屬涂鍍層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 進(jìn)口MPO涂鍍層測(cè)厚儀
- MPO涂鍍層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀優(yōu)勢(shì)
- L200薄膜測(cè)厚儀
- CMI830電解測(cè)厚儀
- CMI900 X射線熒光測(cè)厚儀
- CMI760 PCB銅厚測(cè)試儀
- CMI730 臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI511 便攜式孔銅測(cè)厚儀
- CMI250 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀
- CM95 便攜式銅箔測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- 膜厚儀
- 超聲波測(cè)厚儀
- L170涂鍍層測(cè)厚儀
- 漆膜測(cè)厚儀L180
- 美國(guó)LEE測(cè)厚儀
- L200兩用型測(cè)厚儀
- L200薄膜測(cè)厚儀
- CMI810電解測(cè)厚儀
- CMI820電解測(cè)厚儀
- CMI808電解測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- 鍍層測(cè)厚儀
- CMI243 便攜式金屬鍍層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- 涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI涂層測(cè)厚儀
- CMI153 便攜式涂鍍層測(cè)厚儀
- CMI測(cè)厚儀
- CMI233 便攜式涂層測(cè)厚儀
- 英國(guó)牛津兩用涂層測(cè)厚儀CMI153
- CMI153牛津涂層測(cè)厚儀
- 涂鍍層測(cè)厚儀
- L200薄膜測(cè)厚儀