高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱 返回列表頁(yè)

高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱

高低溫環(huán)境試驗(yàn)箱

小型高低溫試驗(yàn)箱用來(lái)考核和確定電工、電子產(chǎn)品或材料在溫度循環(huán)變化，產(chǎn)品表面產(chǎn)生高溫或低溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性。設(shè)備采用強(qiáng)迫空氣循環(huán)來(lái)保持工作室內(nèi)溫度的均勻性。為限制輻射影響，設(shè)備內(nèi)壁各部分溫度與試驗(yàn)規(guī)定的溫度之差不大于3%，且試驗(yàn)樣品不會(huì)受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。

HGTH 系列產(chǎn)品能滿足以下各項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)：

GB-2423.1-89（IEC68-2-1）試驗(yàn) A：低溫試驗(yàn)方法。

GB-2423.2-89（IEC68-2-2）試驗(yàn) B：高溫試驗(yàn)方法。

GJB360.8-87（MIL-STD-202F）高溫壽命試驗(yàn)。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高溫試驗(yàn)方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法。

內(nèi)容量：225L（可定制）

溫度范圍：-40℃~150℃

溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃

溫度均勻性：≤2.0℃

溫度下降時(shí)間：+75℃~ -40℃（120分鐘內(nèi)）

溫度上升時(shí)間：-40℃~ +75℃（60分鐘內(nèi)）