Chroma 7505 半導體封裝光學量測系統(tǒng)同時配備電動調整移動平臺，可對樣品做自動調平及定位。垂直與水平軸向掃描范圍大，適合各種自動量測之應用，待測物皆不需...

Chroma 3813 觸碰面板多點半自動測試機是一款新型的觸控面板線性測試機。3813 可測試數(shù)位式電阻與數(shù)位式電容面板以及傳統(tǒng)式電阻與傳統(tǒng)式電容面板，測試機...

Chroma 3260C 三溫系統(tǒng)板測試分類機是一臺全新搭載Chroma混合制冷機（Hybr id Chi l ler）的系統(tǒng)板三溫測試分類機（SLT Hand...

Chroma 3280 測試分類機為所有的SD卡類產品帶來了一 個創(chuàng)新的測試方法，而這高效率的測試方法也為 客戶帶來大幅降低生產成本的好處。此外，小機 臺的設計...

Chroma 3240 自動化系統(tǒng)功能測試機是一款新型的測試機可供多組PCB level平行測試的大量生產機具。3240可配合多數(shù)不同的封裝類型包括傳統(tǒng)的QFP...

Chroma 3240-Q 無線射頻分類機也可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片。具有自動送料/分料盤設計, 3240-Q適 用于JEDEC和EIA料盤規(guī)范...

Chroma 3180 八站邏輯測試分類機有著高可靠性的處理機制可依據(jù)測試需求支援各種不同類型封裝的晶片，且能與通用生產治具 相容，順暢的自動化技術滿足高產能和...

Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機是一臺可提供大量且多個IC測試的分類機。該設備可提供多種封裝方試的IC測試，且支持1/2/4 sites的測試需...

Chroma 3160終端測試分類機是一系列適合量產、高產出、多平行測試站點的高速IC測試分類機。此系列分類機運用Pick & Place技術，能夠配合多種封裝...

Chroma 3112 晶片測試分類機其高效率的模組化設計與精準的機構傳動 結構可確保在高速運作下減少Jam Rate的量產要 求，多重檢查功能裝置可降低待測物...

Chroma 3111 桌上型單站測試分類機具備遠端功能可于任何地點 透過網路連接方式進行控制，3111可用軟體設 定JEDEC料盤的分配以及進行工程測試，在6...

Chroma HDAVO 高性能混和訊號解決方案具有任意波形發(fā)生器（awg）和 digi zer （dgt）功能。 該模塊的儀器板上有8個 awg 和8個數(shù)字化...

Chroma 36010 高精準可程控邏輯腳位模塊提供17種以上的 sequence 指令，包括 jump、match、 loop、 repeat等，可以控制p...

Chroma 3650-CX SoC測試系統(tǒng)的軟體測試環(huán)境CRISP （ Chroma Integrated Software Platform），是一個結合工...

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統(tǒng)在設計其架構時，應用* 的規(guī)劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出...

致茂 Model 3680 *SoC/模擬測試系統(tǒng)提供靈活的配置和廣泛的覆蓋范圍，以高度兼容性測試不同類型的設備。3680測試系統(tǒng)可靈活地在24個通用插槽內部署...

Chroma 3110-FT 三溫測試分類機三溫 測試分類機同時包含預溫區(qū)，可改善測試時間及產出;配有2個自動分料盤及2個手動分料盤，在僅1.4平方米的空間發(fā)揮...

Chroma 3110 雙用單站測試分類機3110 不 但適用于系統(tǒng)功能檢測，也同時具備終端電性測 試的能力?？删C合各元件的整體效能并執(zhí)行測試 系統(tǒng)上的所有測試...

Chroma 36020 精密直流電源供應模塊提供精密信號源和測量能力的電源供應器36020 使用組合開關和線性調節(jié)來提供優(yōu)異的電壓信號源與精準度。4個chan...

Chroma 3650 SoC測試系統(tǒng)軟體測試環(huán)境CRISP（Chroma Integrated Software Plat form），是一個結合工程開發(fā)與量...