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LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)

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產(chǎn)品型號

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廠商性質(zhì)經(jīng)銷商

所在地青島市

更新時(shí)間:2022-05-27 22:00:03瀏覽次數(shù):44次

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LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)
[特點(diǎn)]
-LE-373是一種可測量非磁性膜厚度的膜厚計(jì),例如磁性金屬上的鍍層(不包括電解鎳鍍層)和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī),并且是一種應(yīng)用。 (測量線)具備存儲功能,測量數(shù)據(jù)存儲,膜厚管理的上下限設(shè)定,簡單的統(tǒng)計(jì)處理,數(shù)據(jù)輸出等16種功能

LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)

 [特點(diǎn)]
-LE-373是一種可測量非磁性膜厚度的膜厚計(jì),例如磁性金屬上的鍍層(不包括電解鎳鍍層)和涂層
-任何模型都可以將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接?jì)算機(jī),并且是一種應(yīng)用。 (測量線)具備存儲功能,測量數(shù)據(jù)存儲,膜厚管理的上下限設(shè)定,簡單的統(tǒng)計(jì)處理,數(shù)據(jù)輸出等16種功能

 

LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)口凱特科學(xué)

規(guī)格/尺寸信息

產(chǎn)品類別
膜厚儀測量范圍(μm)0-2500
分辨率(μm)小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1μm方法電磁感應(yīng)式
測量目標(biāo)磁性材料上的非磁性膜準(zhǔn)確性小于50μm:±1μm,50μm或更大且小于1000μm:±2%,1000μm或更大:±3%
符合標(biāo)準(zhǔn)ASTM E 376 / JIS H0401 / ISO 1460 / ISO 2064 / ISO 2178 / ISO 2808 / BS 3900-C5ASTM B 499 / JIS K5600-1-7 / ASTM D 7091-5 / JIS H8401 / JIS H8501 / JIS H8641 / ISO 19840顯示方式數(shù)字(帶背光的LCD,小顯示數(shù)字為0.1μm)
外部輸出可以輸出到個(gè)人計(jì)算機(jī)(USB或RS-232C)或打印機(jī)(RS-232C)電源供應(yīng)電池1.5V(AA堿性)x 4
能量消耗80mW(背光關(guān)閉時(shí))工作溫度極限0-40℃

 

產(chǎn)品功能/規(guī)格

產(chǎn)品基本規(guī)格/功能

●緊湊輕巧的機(jī)身

  尺寸為寬75mm,長145mm,厚31mm,質(zhì)量340g。由于尺寸是可以單手獲得的,因此即使在測量現(xiàn)場也可以輕松使用。

 

●具備多種功能

具備正常膜厚控制所需的所有功能。
應(yīng)用程序選擇,背景校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲器,上/下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,自動關(guān)閉時(shí)間,背光亮度,背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動批次分類,測量方法,維護(hù)模式等??梢愿鶕?jù)需要設(shè)置16種功能。 

 

●完整選項(xiàng)

可選的測量架LW-990使得易于測量難以測量的彎曲表面(例如管道),甚至在測量普通平面時(shí),也可以將重復(fù)誤差和人為誤差降至低。
另外,通過使用數(shù)據(jù)管理軟件“ Data Logger LDL-03”和“ McWAVE series”,可以以MS Excel格式保存數(shù)據(jù),編輯測量數(shù)據(jù)并創(chuàng)建各種管理圖。 ..
(McWAVE系列是CEC的商標(biāo),MS Excel是Microsoft的商標(biāo)。)

電磁膜厚度計(jì)LE-373選件

選擇架“ LW-990”

 

●測量原理

當(dāng)電磁吸引型(LE-373 Fe探頭)
交流電磁鐵靠近鐵(磁性金屬)時(shí),穿過線圈的磁通量會根據(jù)接近距離而變化,因此施加在線圈兩端的電壓也會發(fā)生變化。
電磁膜厚度計(jì)從電流值讀取該電壓變化并將其轉(zhuǎn)換為膜厚度,該膜厚度用于測量磁性金屬上的非磁性膜。

 

●規(guī)格

測量方式電磁感應(yīng)式
測量目標(biāo)磁性金屬上的非磁性涂層
探測單點(diǎn)接觸恒壓型(LEP-J)
測量范圍0-2,500μm或99.0密耳
符合標(biāo)準(zhǔn)JIS K5600-1-7,JIS H0401,JIS H8401,
JIS H8501,JIS H8641 / ISO 1460,
ISO 2064,ISO 2178,ISO 2808,
ISO 19840 / BS 3900-C5 / ASTM B 499,
ASTM D 7091-5,ASTM E 376
應(yīng)用程序
部署內(nèi)存
100
測量精度小于50μm:±1μm,50μm或更大且小于1,000μm:±2%,1,000μm或更大:±3%
解析度小于100μm:0.1μm,100μm或更大:1μm
資料儲存39,000點(diǎn)
附加功能應(yīng)用程序選擇,背景校正,數(shù)據(jù)刪除,數(shù)據(jù)存儲器,上下限設(shè)置,統(tǒng)計(jì)計(jì)算(測量計(jì)數(shù)/平均值/標(biāo)準(zhǔn)偏差/大值/小值),顯示選擇,日期/時(shí)間,
自動關(guān)閉時(shí)間,背光亮度,背光時(shí)間,單位,數(shù)據(jù)輸出,自動批次分類,測量方法,維護(hù)方式
顯示方式數(shù)字(LCD 128 x 64點(diǎn)帶背光,小顯示數(shù)字為0.1μm)
外部輸出個(gè)人計(jì)算機(jī)(USB或RS-232C)
電源供應(yīng)電池1.5V(AA堿性)x 4
能量消耗80mW(背光關(guān)閉時(shí))
電池壽命100小時(shí)(背光關(guān)閉時(shí)連續(xù)使用)
工作溫度極限0至+ 40°C
尺寸/質(zhì)量75(W)x 145(D)x 31(H)毫米,0.34千克
配件標(biāo)準(zhǔn)板(10μm,50μm,100μm,500μm,1,000μm,1,500μm,近似值,每組1個(gè),總共6張),
標(biāo)準(zhǔn)板盒,AA堿性電池1.5 V,探頭適配器,手提箱,鐵底座
選項(xiàng)標(biāo)準(zhǔn)板(配件以外的厚度),測量臺“ LW-990”,數(shù)據(jù)記錄器軟件“ LDL-03”,個(gè)人計(jì)算機(jī)電纜,RS-232C-USB電纜,
數(shù)據(jù)管理軟件“ McWAVE Lite”,“ McWAVE Std。”,“ McWAVE Pro” “。”“ MultiProp”

SWT-9100膜測厚儀日本進(jìn)

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LZ-373雙膜測厚儀日本凱特

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LE-373電磁膜測厚儀日本進(jìn)

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