當前位置:科睿設(shè)備有限公司>>科睿其他產(chǎn)品>>開爾文測試儀(功函數(shù)測試>> 單點開爾文探針
單點開爾文探針
單點開爾文探針
單點開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置,用于測試導電材料的功函或半導體材料表面的表面電勢,表面功函。由材料表面頂部的1-3層原子或分子決定,因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界高分辨率的測試系統(tǒng)。
主要特點:
● 功函分辨率< 3meV
● 手動高度調(diào)節(jié)
應(yīng)用領(lǐng)域:
● 有機和非有機半導體
● 金屬
● 薄膜
● 太陽能電池和有機光伏材料
● 腐蝕
升級附件:
● 大氣光子發(fā)射系統(tǒng)
● 表面光電壓(QTH or LED)
● SPS表面光電壓光譜(400-1000nm)
● 金或不銹鋼探針,直徑0.05mm to 20mm
● 相對濕度控制和氮氣環(huán)境箱
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負責,興旺寶對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示:為規(guī)避購買風險,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。