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自動(dòng)橢圓偏振測厚儀 型號:XHPY-2

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產(chǎn)品型號XHPY-2

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所在地北京市

更新時(shí)間:2022-03-20 12:00:02瀏覽次數(shù):111次

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儀器采用消光法自動(dòng)測量薄膜厚度和折射率,具有精度高、靈敏度高以及自動(dòng)控制等特點(diǎn)。光源采用氦氖激光器,功率穩(wěn)定波長精度高。
自動(dòng)橢圓偏振測厚儀 
型號:XHPY-2
貨號:ZH10669
產(chǎn)品簡介:
儀器采用消光法自動(dòng)測量薄膜厚度和折射率,具有精度高、靈敏度高以及自動(dòng)控制等特點(diǎn)。光源采用氦氖激光器,功率穩(wěn)定波長精度高。
儀器采用USB接口與電腦連接,配套軟件功能齊,具有多樣數(shù)據(jù)采集及處理方式,適用于不同用戶的需要。
指標(biāo):
測量范圍:薄膜厚度范圍1nm-4000nm;折射率范圍:1-10
測量Z小示值:≤1nm
入 射 角:20°- 90°精度≤0.05°
偏振器方位角范圍:0°- 180°
度盤刻度:每格1度
偏振器步進(jìn)角:0.014°/步
儀器測量精度:±0.5nm(薄膜厚度在10-100nm時(shí))
測量膜厚和折射率重復(fù)性精度分別為:0.5nm和0.005
光學(xué)中心高度:80mm
允許樣品尺寸:φ10-φ140mm,厚度≤16mm
外形尺寸:680*390*310mm
主機(jī)重量:26kg
儀器成套性:
主機(jī)、電控系統(tǒng)、USB接口、配套軟件(需配計(jì)算機(jī))。

便攜式涂層測厚儀 型號:MTA-068

本儀器采用了磁性和渦流測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合

電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號:WBLZ-370

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合

電磁式及高頻渦流式薄膜測厚儀/膜厚計(jì) 日本 型號:WBLZ-370

本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合

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