Leica DM8000 M——高效率檢查及缺陷分析系統(tǒng)
徠卡 DM8000 M 提供了全新的光學設(shè)計,如理想的宏觀檢查模式或者傾斜紫外光 (OUV, 隨檢UV 選擇) 不但提高了分辨能力,同時也增加了觀察 8’’/200 毫米直徑大樣品時的產(chǎn)量。
該機照明基于的 LED 科技,一體化整合在顯微鏡機身上。 低熱輻射效應和一體化內(nèi)置技術(shù)確保了顯微鏡四周空間具有理想化的空氣環(huán)流。 LED的超長使用壽命和低能耗特性大大降低了用戶今后的使用成本。只要一指按鍵就可以切換放大倍率、照明模式或相襯模式。
品質(zhì)特征
● 高級智能數(shù)字式正置材料顯微鏡,適合晶圓、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、電子元器件,粉塵顆粒等樣品的觀察分析,多種安全設(shè)計,保護晶圓,鏡頭及觀察者;
● 模塊化設(shè)計,可實現(xiàn)反射觀察、透反射觀察配置;
● 復消色差光路,整體光路支持25mm視野直徑;
● 可選配UV光源,提高觀察分辨率至亞微米結(jié)構(gòu),UV由大功率LED產(chǎn)生,具有UV和0UV功能;
● 8x8大樣品臺,可實現(xiàn)8"晶圓的直接觀察;
● 6孔位電動物鏡轉(zhuǎn)盤,配接32mm直徑長工作距離工業(yè)物鏡;
● 內(nèi)置電動或手動調(diào)焦系統(tǒng);
● 0.7X宏觀物鏡,具有宏觀晶圓檢查功能;
● 可實現(xiàn)明場、暗場、偏光、干涉和斜照明觀察方式;
● 機身內(nèi)置LED透、反射照明電源,智能光強變化控制照明方式;
● 能自動記憶在不同物鏡下和不同觀察方式下的光強、光闌大小及聚光鏡的組合,自動恢復到位,操作簡單快速;
● 機座配觸摸按鈕,控制顯微鏡的操作;
● 光強、光闌、觀察方式和聚光鏡調(diào)節(jié)可由按鍵和計算機控制操作,并自動在不同倍數(shù)物鏡下拍的照片中加相應倍數(shù)標尺;
● 具有色溫恒定系統(tǒng),提供工作效率;
● 可連接晶圓搬送機進行連續(xù)工作;
● 可配接攝像頭,數(shù)碼相機進行圖像采集、分析、測量;
● 可配接熒光觀察、高溫熱臺、陰極發(fā)光儀、光度計;
● 可配接自動掃描臺進行多視場非金屬夾雜物分析和顆粒粒度、清潔度分析。
參數(shù)/型號 | Leica DM 8000M |
光學系統(tǒng) | Leica HC 光學器件 (光學系統(tǒng)校正至無限遠) |
觀察鏡筒 | 三目人工學鏡筒,直立和同向圖像 |
切換位置 (目鏡/攝像頭): 100/0 和 0/100,100/0 和 50/50 | |
宏觀成像 | 超廣視野概覽圖像,樣品上掃描區(qū)域 40 mm |
照明系統(tǒng) | 全 LED 入射光照明;觀察技術(shù):亮場、暗場、微分干涉相襯、定性偏振、斜射照明、紫外線、斜射紫外線 |
全 LED 透射光照明;觀察技術(shù):亮場、定性偏振 | |
狀態(tài)反饋 | 正面的狀態(tài)指示器 |
工作間隔指示器 (儀器背面) | |
操作支持 | 內(nèi)置相襯管理器及科勒照明管理系統(tǒng) |
物鏡轉(zhuǎn)換盤 | 手動檢驗載物臺 8 x 8",202 x 202 mm 移動范圍,內(nèi)置快速調(diào)節(jié) |
掃描載物臺 8 x 8";202 x 202 mm 移動范圍,電動,4 mm 高度 | |
控制單元 | 操縱桿,帶 4 個可自由編程的功能鍵 |
Leica SmartMove,x、y、z 控制,帶 4 個可自由編程的功能鍵 | |
Leica STP6000 SmartTouch,x、y、z 控制,帶 4 個可自由編程的功能鍵 | |
聚焦 | 耐用型手動 2 級聚焦,粗調(diào)和微調(diào)模式;35 mm 移動范圍;高度可調(diào)式聚焦手柄 |
精準 3 級聚焦,粗調(diào)、微調(diào)和超微調(diào)模式;35 mm 調(diào)節(jié)范圍;高度可調(diào)式聚焦手柄 | |
電動 2 級聚焦;35 mm 移動范圍;強重復能力;齊焦補償 | |
電氣系統(tǒng) | 供電電壓:100120/220–240 V AC (%),50/60 Hz |
重量 | 約 52 kg (其中顯微鏡約 36.5 kg) |
應用 | 圓晶、電子元器件、金屬、陶瓷、高分子材料、粉塵顆粒 |
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