研祥慧視機(jī)器視覺檢測設(shè)備MVS-729F
研祥慧視機(jī)器視覺檢測設(shè)備 MVS-729F，是業(yè)界的大尺寸液晶模組檢測系統(tǒng)，具有檢測精度高、配置靈活易用、維護(hù)簡單可靠的特點(diǎn)，設(shè)備檢測排除了檢測人員的主觀態(tài)度和感知差異所造成的判斷誤差，有助于保障產(chǎn)品的檢測一致性，使產(chǎn)品質(zhì)量得到可靠保障。 設(shè)備組成形態(tài)： ◆ 設(shè)備檢測室（固定在產(chǎn)線檢測工位） ◆ 信號(hào)發(fā)生裝置 （固定在設(shè)備內(nèi)部） ◆ 信號(hào)對(duì)接系統(tǒng)（對(duì)接母端固定在工裝板上，隨工裝板流動(dòng)，對(duì)接公端固定在設(shè)備上）
MVS-729F，采用高效自主算法，由高性能工業(yè)控制器、高清工業(yè)相機(jī)陣列構(gòu)成，有效的提高了生產(chǎn)效率與保障了產(chǎn)品的一致性，其具有如下特征
◆ 基于*的軟件開發(fā)環(huán)境、高效自主圖形算法，安全、可靠
◆ 高性能工業(yè)控制器與工業(yè)相機(jī)陣列，檢測效率高、精度高
◆ 方便的維護(hù)艙門、推拉裝置和安全鎖
◆ 定制尺寸，適于生產(chǎn)現(xiàn)場與運(yùn)輸
◆ 檢測液晶模組的點(diǎn)、線、面缺陷與外觀損傷
◆ 單項(xiàng)缺陷檢測算法達(dá)到毫秒級(jí)
◆ 檢測大尺寸液晶模組
◆ 可檢測Mura、漏光等業(yè)內(nèi)高難度缺陷
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液晶模組檢測技術(shù)規(guī)格表 | |||||
類別 | 項(xiàng)次 | 機(jī)器視覺設(shè)備選型 | |||
基本型 | 增強(qiáng)型 | 豪華型 | 定制項(xiàng) | ||
檢測指標(biāo) | 檢測精度 | 像素級(jí) | 子像素級(jí) | 1/2子像素 | |
整體檢測時(shí)間，備注 | 6s | 4s | 3s | ||
點(diǎn)缺陷 | 單亮點(diǎn) | √ | √ | √ | |
連亮點(diǎn) | √ | √ | √ | ||
碎亮點(diǎn) | √ | √ | |||
單暗點(diǎn) | √ | √ | √ | ||
連暗點(diǎn) | √ | √ | √ | ||
聚焦暗點(diǎn) | √ | √ | |||
線缺陷 | 黑線 | √ | √ | ||
白條 | √ | √ | |||
線狀異物 | √ | √ | |||
面缺陷 | 黑團(tuán) | √ | √ | √ | |
白團(tuán) | √ | √ | √ | ||
氣泡 | V | ||||
凹痕 | √ | ||||
異物 | √ | √ | |||
Mura | √ | √ | |||
漏光 | √ | √ | |||
外觀缺陷 | 破裂 | √ | |||
劃痕 | √ | ||||
Logo | √ | ||||
功能缺陷 | 閃動(dòng) | √ | |||
網(wǎng)紋 | √ | ||||
亮線 | √ | √ | √ | ||
暗線 | √ | √ | √ | ||
功能不良 | √ | √ | √ | ||
注：如上“√"表示支持 | |||||
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