TZTFE-2000薄膜鐵電測(cè)試儀
TZTFE-2000薄膜鐵電測(cè)試儀是一款應(yīng)用于薄膜材料的鐵電性能測(cè)試的設(shè)備,該設(shè)備具有動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測(cè)試功能.,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。
TZTFE-2000薄膜鐵測(cè)試儀與探針臺(tái)配套使用,可實(shí)現(xiàn)薄膜的鐵電性能測(cè)試。動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率和激勵(lì)測(cè)試電源,用戶可根據(jù)需要進(jìn)行選擇,動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率范圍為1mHz~500kHz可選,激勵(lì)測(cè)試電源±10/30/100/200/500VAC可選,也可根據(jù)用戶需要進(jìn)行定制。
TZTFE-2000薄膜鐵測(cè)試儀本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、探針臺(tái)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了內(nèi)置激勵(lì)測(cè)試電源、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測(cè)試時(shí),無需改變測(cè)試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測(cè)試。
本測(cè)試系統(tǒng)鐵電性能測(cè)試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測(cè)量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測(cè)試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對(duì)測(cè)試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測(cè)量準(zhǔn)確度。
本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口,對(duì)于需要做高壓測(cè)試、高壓漏電流測(cè)試 的用戶,可直接擴(kuò)展此功能。
用戶選擇此款設(shè)備,需向廠家提供測(cè)試頻率、激勵(lì)測(cè)試電壓等要求。
測(cè)試功能:
· 動(dòng)態(tài)電滯回線(DHM)
· I-V特性
· 脈沖(PUND)
· 靜態(tài)電滯回線(SHM)
· 疲勞(FM)
· 漏電流(LM)
· 電流-偏壓
· 保持力(RM)
· 印跡(IM)
可擴(kuò)展部件:
· 探針臺(tái)
· 主要技術(shù)參數(shù):
1.電壓范圍(內(nèi)置電壓):±40V,(可外接高壓放大器,10KV);
2.ADC位數(shù):18;
3.最小電荷分辨率:≤10fC;
4.電荷分辨率:276μC;
5.電滯回線測(cè)試頻率:0.03Hz~300KHz;
6.最小電滯回線測(cè)試頻率:0.01Hz;
7.最小脈沖寬度:1μs;
8.最小脈沖上升時(shí)間:50μs;
9.脈沖寬度:1μs;
10.額定功率:≥500W;
11.設(shè)備總電源方式:AC:220V;
12.配備JKTD型探針臺(tái)(尺寸:直徑30mm,材質(zhì):銅,線纜:同軸線/三軸線;)
13.漏電精度:1pA;
14.固定探針:彈簧固定/管狀固定;
15.接頭類型:BNC/三軸/香蕉頭/鱷魚夾/接線端子。
選配高壓功率放大器:
1.輸出電壓:-200~200V
2.輸出電流:-100~100mA
3.大信號(hào)帶寬:DC≥500KHz/s
4.小信號(hào)帶寬:DC≥10kHz(-3dB)
5.隨時(shí)間穩(wěn)定性:50ppm/小時(shí);
6.隨溫度穩(wěn)定性:200℃;
7.精度:≤0.1%滿量程;
8.設(shè)備帶有TTL接口;
9.設(shè)備帶有遠(yuǎn)端控制BNC接口;
10.供電:220V,50Hz。
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