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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

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2023推出新款 FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀

產(chǎn)品二維碼
參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 產(chǎn)品型號:
  • 品牌:
  • 產(chǎn)品類別:其它電子測量儀器
  • 所在地:北京市
  • 信息完整度:
  • 樣本:
  • 更新時(shí)間:2024-12-02 09:03:43
  • 瀏覽次數(shù):1
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北京精科智創(chuàng)科技發(fā)展有限公司

其他

  • 經(jīng)營模式:其他
  • 商鋪產(chǎn)品:460條
  • 所在地區(qū):
  • 注冊時(shí)間:2014-12-28
  • 最近登錄:2023-11-09
  • 聯(lián)系人:謝偉華
產(chǎn)品簡介

描述:FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀是一款擴(kuò)展靈活的變溫鐵電測試系統(tǒng),也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電材料性能測試設(shè)備,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。

詳情介紹

FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀


關(guān)鍵詞:鐵電,電滯回線,脈沖,漏電,IV


FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀是一款擴(kuò)展靈活的變溫鐵電測試系統(tǒng),也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電材料性能測試設(shè)備,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。


一、產(chǎn)品主要性能:

1、本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。

2、主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,

3、主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。

4、系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時(shí),無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。

5、本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用基于虛地模式的測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。

6、此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。


二、鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):

1、 外接5 kV高壓放大器(可擴(kuò)展至10 kV)(國產(chǎn)、進(jìn)口均適用);

2、. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 5 kHz;

3、 電荷解析度:10 mC(可擴(kuò)展);

4、 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);

5、 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA(可擴(kuò)展),分辨率0.1 pA;

6、 配有高壓擊穿保護(hù)模塊;

7、溫度范圍:-160℃~260℃。

本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用基于虛地模式的測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。

變溫鐵電測試系統(tǒng)采用模塊化設(shè)計(jì),不同的模塊對應(yīng)不同的電特性測量。測量功能如下,可按需選擇:

動態(tài)電滯回線DHM

靜態(tài)電滯回線SHM

I-V特性

脈沖PUND

疲勞Fatigue

電擊穿強(qiáng)度BDM    

漏電流LM

電流-偏壓

保持力RM

印跡印痕IM

變溫測試THM

可選的模塊:

POM 模塊實(shí)現(xiàn)極化測量功能

CVM模塊實(shí)現(xiàn)小信號電容測試,獲得C-V曲線

PZM模塊實(shí)現(xiàn)壓電特性測試

DPM模塊測試介電性能

RTM模塊測試電阻/電阻率性能

CCDM模塊實(shí)現(xiàn)電容充放電測試。

 


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