球差場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF5000
200 kV相差校正TEM/STEM,平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能
通過單極片實(shí)現(xiàn)0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。
透射電子顯微鏡除了延續(xù)了日立公司配備的具有掃描透射電子顯微鏡“HD-2700”的球面像差校正器的功能、自動(dòng)校正功能,像差校正后的SEM圖像和對稱Dual SDD技術(shù)等特點(diǎn)。還融匯了透射電子顯微鏡HF系列中所積累的技術(shù)。
對于包括用戶在內(nèi)的廣泛用戶,我們提供亞Å級空間分辨率和高分析性能以及更多樣化的觀察和分析方法。
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- 附帶第二顯示器(可選),顯示屏為嵌入式合成界面。
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特點(diǎn)
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規(guī)格
特點(diǎn)
- 標(biāo)配日立生產(chǎn)的照射系統(tǒng)球差校正器(附自動(dòng)校正功能)
- 搭載具有高輝度、高穩(wěn)定性的冷場FE電子槍
- 鏡體和電源等的高穩(wěn)定性使機(jī)體的性能大幅度提升
- 觀察像差校正SEM/STEM圖像的同時(shí)觀察原子分辨率SE圖像
- 采用側(cè)面放入樣品的新型樣品臺結(jié)構(gòu)以及樣品桿
- 支持高立體角EDX*的對稱配置(對稱Dual SDD*)
- 采用全新構(gòu)造的機(jī)體外殼蓋
- 配備日立生產(chǎn)的高性能樣品桿*
- *
- 選項(xiàng)
高輝度冷場FE電子槍×高穩(wěn)定性×日立制球面像差校正器
以長年積累起來的高輝度冷場FE電子源技術(shù)為基礎(chǔ),進(jìn)行優(yōu)化,進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)電子槍的高度穩(wěn)定性。
此外,還更新了鏡體,電源系統(tǒng)和樣品臺,以支持觀察亞Å圖像,并提升了機(jī)械和電氣穩(wěn)定性,然后與日立公司的球差校正器結(jié)合使用。
不僅可以穩(wěn)定地獲得更高亮度更精密的探頭,而且自動(dòng)像差校正功能可以實(shí)現(xiàn)快速校正,從而易于發(fā)揮設(shè)備的固有性能。使像差校正可以更實(shí)用。
Si(211)單晶體HAADF-STEM圖像(左)和圖像強(qiáng)度曲線分布(右下)、FFT功率譜(右上)
支持高立體角EDX*的對稱Dual SDD*
支持雙重配置100 mm2 SDD檢測器,以實(shí)現(xiàn)更高的靈敏度和處理能力進(jìn)行EDX元素分析。
由于第二檢測器位于檢測器的對面位置,因此,幾乎不會因?yàn)闃悠穬A斜,導(dǎo)致X射線中的信號檢測量發(fā)生變化。所以,即使是結(jié)晶性樣品,也不用顧忌信號量,可按照樣品的方向與位置進(jìn)行元素分析。
此外,對于電子束敏感樣品、低X光輻射量的樣品,除了原子列映射,在低倍、廣視野的高精細(xì)映射等領(lǐng)域也極為有效。
GaAs(110)的原子柱EDX映射
像差校正SEM圖像/STEM圖像 同時(shí)觀察
配有標(biāo)配二次電子檢測器,可同時(shí)觀察像差校正SEM/STEM圖像。通過同時(shí)觀察樣品的表面和內(nèi)部結(jié)構(gòu),可以掌握樣品的三維構(gòu)造。
在像差校正SEM圖像中,除了可以通過校正球差來提高分辨率之外,還可以獲取更真實(shí)地樣品表面圖像。
Au/CeO2催化劑的SEM/ADF-/BF-STEM圖像(上段)和Au粒子的高分辨率圖像(下段)
規(guī)格
主要規(guī)格
項(xiàng)目 | 內(nèi)容 | |
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電子源 | W(310)冷陰極場發(fā)射型 | |
加速電壓 | 200 kV、60 kV*1 | |
圖像分辨率 | STEM | 0.078 nm(ADF-STEM圖像) |
TEM | 0.102 nm(晶格像) | |
倍率 | STEM | ×20~×8,000,000 |
TEM | ×100~×1,500,000 | |
樣品微動(dòng) | 樣品臺 | 偏心測角儀(Eucentric Goniometer)5軸樣品臺 |
樣品尺寸 | 3 mm Φ | |
移動(dòng)范圍 | X, Y=±1.0 mm,Z=±0.4 mm | |
樣品傾斜 | α=±25°、β=±35°(日立2軸傾斜樣品桿*1) | |
像差校正器 | 配有日立照射系統(tǒng)球面像差校正器(標(biāo)配) | |
圖像顯示 | PC | Windows® 7 *2 |
顯示器 | 27英寸寬屏液晶顯示器(機(jī)體控制顯示器、第二顯示器*1) | |
攝像頭 | 標(biāo)配伸縮式攝像頭 屏幕攝像頭*1(用于熒光板觀察) |
機(jī)體尺寸/重量
項(xiàng)目 | 寬度×進(jìn)深×高度(mm) | 重量(kg) |
---|---|---|
鏡體(含電子槍) | 1,060×1,742×2,970 | 1,940 |
機(jī)體外殼蓋 | 1,678×1,970×3,157 | 429 |
操作臺 | 1,400×819×740 | 132 |
擴(kuò)展操作臺*1 | 580×819×740 | 53 |
FE槽 | 1,041×840×1,317 | 482 |
V0槽 | 398×630×1,046 | 164 |
控制電源 | 1,400×693×816 | 173 |
像差校正器電源 | 606×529×1,096 | 81 |
排氣系統(tǒng)電源 | 913×663×1,790 | 378 |
轉(zhuǎn)向系統(tǒng)電源 | 913×663×1,790 | 394 |
配重塊 | 280×130×130 | 23 |
Gatan控制器*1*3 | 576×648×1,173 | 150 |
冷卻水控制裝置 | 470×540×350 | 25 |
冷卻水循環(huán)裝置*1*3 | 970×970×1,064 | 95 |
干式泵*1 | 252×400×336 | 23 |
空壓機(jī)*1 | 275×560×576 | 25 |
安裝條件
項(xiàng)目 | 內(nèi)容 | |
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室溫 | 15~23℃(溫度變化:0.2℃/h以內(nèi)) | |
濕度 | 40~60% RH | |
電源 | 機(jī)體 | 單相AC200~240 V ±10%、50/60 Hz、10 kVA 斷路器容量 50 A |
冷卻水循環(huán)裝置*1*3 | 三相AC200 V ±5%、50/60 Hz、30 A | |
接地 | D種接地(100 Ω以下) | |
冷卻水 | 水量 | 5.1~5.3 L/min 1系統(tǒng)、2.0~2.2 L/min 1系統(tǒng) (水壓0.25 MPa) |
水溫 | 16~18℃(變動(dòng):±0.1℃以內(nèi)) | |
氣體 | SF6 | 99.9%以上、180 k~200 kPa |
干氮 | 99.9%以上、0~100 kPa | |
壓縮空氣 | 600 k~800 kPa |
購買之前,請?jiān)O(shè)置預(yù)定安裝處測量振動(dòng)、磁場和噪聲,如果超過容許值,請務(wù)必另行咨詢。
關(guān)于容許值,請另行咨詢。
- 備注
- *1:選項(xiàng)。*2:Windows是在美國以及其他國家的注冊的美國Microsoft Corp.商標(biāo)。*3:規(guī)格、尺寸均根據(jù)廠家、型號和配置的不同而會有所不同。
布局示例
※使用上述配置(包含維護(hù)工具),整體設(shè)備總重量約為5,000kg。
※請檢查地面強(qiáng)度(kg/m2)>3×設(shè)備總重量(kg)/占地面積(m2)。
關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類
- 聚焦離子束
- TEM/SEM樣品的前處理裝置
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