SID4-SWIR-HR 短波近紅外 /
【SID4-SWIR-HR傳感器 簡介】
隨著光波波前探測技術(shù)的發(fā)展,各種波前傳感器應(yīng)運(yùn)而生。從測量原理上可以分成兩類:一類是根據(jù)幾何光學(xué)原理,測定波前幾何像差或面型誤差,主要有Shack-Hartmann 波前傳感器,曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等;另一類是基于干涉測量原理,探測波前不同部分的干涉性,來獲取波前信息,主要有剪切波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標(biāo)準(zhǔn)鏡;SID4-SWIR-HR波前傳感器結(jié)構(gòu)簡單,抗干擾能力強(qiáng),條紋穩(wěn)定。它是測量光學(xué)元件和光束波前質(zhì)量的一種很好的替代傳統(tǒng)干涉儀的方法。SID4-SWIR-HR波前傳感器將的四波剪切技術(shù)與InGaAs探測器結(jié)合在一起。 憑借其超高取樣分辨率(160 x 128相位取樣點(diǎn))和高靈敏度,它提供了從900 nm到1.7μm波段的高精度波前測量。 SID4-SWIR-HR波前傳感器是一種創(chuàng)新的解決方案,可用于檢測空間光通信、測試儀表、夜視系統(tǒng)或監(jiān)控設(shè)備中使用的短波紅外光學(xué)系統(tǒng)。
【關(guān)于Phasics】
是一家專注于高分辨率傳感技術(shù)的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經(jīng)驗(yàn)與的波前測量技術(shù)為客戶提供全面的高性能。
一、 SID4-SWIR-HR 波前傳感器主要特點(diǎn)
覆蓋 0.9 to 1.7µm 短波紅外波段
160 x 128 高相位分辨率
高感光靈敏度 - 可適用于低功率紅外光源測試
非準(zhǔn)直光入射 消色差
二、SID4-SWIR-HR 波前傳感器產(chǎn)品應(yīng)用
激光| 及等離子體檢測| 光學(xué)元件及光學(xué)系統(tǒng)計量
三、SID4-SWIR-HR 波前傳感器測量案例
| 氣體和等離子體密度
高靈敏度(噪聲比 Mach-Zehnder 干涉儀低 8 倍)
在低氣壓下測量精度高
重復(fù)測量的均勻性高
| 光學(xué)系統(tǒng),可適配任何
望遠(yuǎn)鏡像差消除
3D動態(tài)指向
四、SID4-SWIR-HR 波前傳感器主要規(guī)格
波長范圍 | 0.9-1.7 μm |
靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 |
空間分辨率 | 60 µm |
取樣分辨率 | 160 x 128 |
相位分辨率 | 2 nm RMS |
精度 | 15 nm RMS |
采集速率 | 100 fps |
實(shí)時處理速度 | 7 fps (全分辨率下) |
五、與夏克-哈特曼波前傳感器對比
六、更多參數(shù)選型
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