導電陽極絲檢測儀導電陽極絲（CAF）失效是指印制板內(nèi)的銅腐蝕。這是銅在兩個不同電位的導體之間從陽極到陰極的電遷移，而從陰極到陽極的生長是樹枝晶。
偏壓和高濕度的組合會加劇CAF故障。當燈絲在電氣隔離網(wǎng)之間生長時，會導致電氣故障。有關CAF的更多信息，請參見IPC-9691。
新的導電陽極絲檢測儀AutoCAF2+™ 與英國NPL進行的一項重大CAF研究項目一起開發(fā)。
所有256個通道的測量可在30秒內(nèi)完成
導電陽極絲檢測儀特點
施加電壓：+1V至1250V
測量范圍：106Ω至1014Ω
測量方法：在所有選定通道上連續(xù)測量
測量測試間隔：至少1分鐘可選擇
能夠按照所有現(xiàn)有測試規(guī)范（IPC–IEC–JNC）和其他用戶規(guī)范進行測試
經(jīng)得起未來考驗的設計
具有64、128或256通道配置
適用于Windows 7、8和10的適應性強且靈活的軟件。
導電陽極絲檢測儀規(guī)格參數(shù)
| Number of Channels | 64 or 128 or 256 |
| Measurable range of insulation resistance | 106 to 1014 Ω |
| Internal Bias Voltage | 0V; 3.3V; 5V; 10V; 12.5V; 15V; ± 50V & ± 100V |
| External Bias Voltage | 1V to 100V Free selection External 1V to 1250V |
| Measurement Method | Continuous on all selected channels |
| Measurement Test Intervals | Fully selectable from minimum of 1 minute |
| Measurement Time | Optimised at <100ms per channel for data management |
| Maximum Test Duration | Unlimited |
| Current measuring cable | Fully shielded |
| Alarms | Low resistance Test Running Bias Voltage Out of Range/Failure Temperature and humidity |
| Data collection | Sampling Time, Elapsed Time, Resistance, Current, Applied Voltage, Temperature, Humidity |
| Applicable OS | Windows® 7 onwards |
| Power Source | 110V/230V Switchable mains single phase |
| Dimensions & Weight | 17 kgs (37.5 Ibs) 52 x 34 x 17cm |
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