江蘇天瑞儀器股份有限公司
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鍍層錫測厚儀

參  考  價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準

產(chǎn)品型號THICK8OOA

品       牌

廠商性質生產(chǎn)商

所  在  地蘇州市

更新時間:2022-04-14 16:00:02瀏覽次數(shù):16次

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滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
鍍層錫測厚儀高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑,確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點

儀器介紹

天瑞儀器鍍層錫測厚儀Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗,專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器,可全自動軟件操作,可多點測試,由軟件

控制儀器的測試點,以及移動平臺。是一款功能強大的儀器,配上專門為其開發(fā)的軟件,在鍍層行業(yè)中可謂大展

身手。


天瑞儀器鍍層測厚儀應用領域
鐵基---
銅基-----
鋅基-----
鎂鋁合金----
塑膠基體---

應用優(yōu)勢
1 快速:一般測量一個樣品只需要30S~300S,樣品可不處理或進行簡單處理;
2   無損:物理測量,不改變樣品性質;
3   準確:對樣品可以精確分析;
4 直觀:直觀的分析譜圖,元素分布一幕了然,定性分析速度快;
5   環(huán)保:檢測過程中不產(chǎn)生任何廢氣、廢水。


儀器配置

1 鍍層錫測厚儀硬件:主機壹臺,含下列主要部件:
(1)   X光管                 (2) 半導體探測器
(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺
(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)
(7)  上照、開放式樣品腔      (8)雙激光定位
(9)  玻璃屏蔽罩
2 軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0
3 計算機、打印機各一臺
計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)
4 資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。
5 標準附件
準直孔:0.1X1.0mm(已內(nèi)置于儀器中)


天瑞儀器鍍層測厚儀參數(shù)規(guī)格
1 分析元素范圍:S-U
2   同時可分析多達5層以上鍍層
3 分析厚度檢出限高達0.005μm
4 多次測量重復性高可達0.01μm
5   定位精度:0.1mm
6 測量時間:30s-300s
7 計數(shù)率:1300-8000cps
8   Z軸升降范圍:0-140mm
9   X/Y平臺可移動行程:50mm(W)×50mm(D)


性能特點
1  滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求;
2 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求;
3  高精度移動平臺可精確定位測試點,重復定位精度小于0.005mm;
4 天瑞儀器鍍層測厚儀采用高度定位激光,可自動定位測試高度;
5  定位激光精確定位光斑,確保測試點與光斑對齊;
6  鼠標可控制移動平臺,鼠標點擊的位置就是被測點;
7  高分辨率探頭使分析結果更加精準;
8  良好的射線屏蔽作用;
9  測試口高度敏感性傳感器保護;


安裝要求:
1 環(huán)境溫度要求:15℃-30℃
2 環(huán)境相對濕度:<70%
3 工作電源:交流220±5V
4 周圍不能有強電磁干擾。

 



公司介紹

 

江蘇天瑞儀器股份有限公司總部位于全國縣江蘇省昆山市,公司成立于1992年,前身

西安西清華儀器研究所,歷經(jīng)20多年的發(fā)展,以成長為國內(nèi)分析儀器公司,2011年在

深圳創(chuàng)業(yè)板上市,為國內(nèi)一家分析儀器行業(yè)上市公司,股票代碼300165.公司已成為集研發(fā)、

銷售、生產(chǎn)和服務于一體的現(xiàn)代高科技企業(yè),在北京,上海、深圳等地擁有多家子公司,構

筑了面向全銷售和服務網(wǎng)絡,涵蓋光譜,色譜,質譜儀器,環(huán)境科學,醫(yī)療等業(yè)務領域,

涉及電子電器,貴金屬,檢測、冶金、環(huán)保,醫(yī)療,食品安全,電鍍,石油冶煉等領域。

 

鍍層厚度測量已成為加工工業(yè)、表面工程質量檢測的重要環(huán)節(jié),是產(chǎn)品達到優(yōu)等質量標準的必要手段。為使產(chǎn)品化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。

鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。

X射線和β射線法是無接觸無損測量,測量范圍較小,X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。β射線法適合鍍層和底材原子序號大于3的鍍層測量。電容法僅在薄導電體的絕緣覆層測厚時采用。

隨著技術的日益進步,特別是近年來引入微機技術后,采用X射線鍍層測厚儀 向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米,精度可達到1%,有了大幅度的提高。它適用范圍廣,量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用廣泛的測厚儀器。

涂層測厚儀主要是利用磁感應原理或者電渦流測量原理等來測量導磁材料上的非磁性涂層厚度。 涂層測厚儀測量方便快捷,并且測量誤差小、可靠性高,在產(chǎn)品進行涂層加工時可以有效保證產(chǎn)品質量 , 因而廣泛應用于機械加工和檢測行業(yè)。本文主要告訴你如何使用測厚儀,包括涂層測厚儀的使用方法、原理及影響因素。

1)磁性測厚法。 所謂磁性測厚法是適用于測量導磁材料上的非磁性涂層的厚度,其針對的導磁材料有鋼、鐵、銀、鎳等金屬材料;

2)渦流測厚法。它是利用測頭線圈上產(chǎn)生的電磁場在靠近導體的過程中形成渦流 , 而形成的渦流大小會直接以反射阻抗作用體現(xiàn)出來 , 終反映出導電基體上非導電涂層厚度的大小。該方法相比于磁性測厚法的精度要略低,適用于測量非導電涂層的厚度;

3)超聲波測厚法。因為其造價高昂,并且測量精度并不高,所以超聲波測厚方法目前在國內(nèi)還沒有被有效應用,在國外也只有個別企業(yè)在利用超聲波進行測厚 , 主要是因為這種測量方式可以測量磁性測量和渦流測量所無法測量的多層涂層的厚度;

4)電解測厚法。這種方法需要破壞涂層進行電解測量,測量工序復雜,并且測量精度不高,因此應用并不廣泛;

5)放射測厚法。這種測量儀器價格非常昂貴,只有在一些特殊場合才會用到。

 

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