X射線熒光鍍層測厚儀 返回列表頁

菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質(zhì)量控制，質(zhì)量檢驗和生產(chǎn)監(jiān)控的合適的測量儀器。

菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 設計為界面友好的臺式測量儀器系列。根據(jù)不同的預期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作臺為固定式工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDLM 232 型配有可手動操控的 X/Y 工作臺，馬達驅(qū)動的 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDLM 237 型則配備了馬達驅(qū)動的 X/Y 工作臺，當保護門開啟時，工作臺會自動移到放置樣品的位置。馬達驅(qū)動的可編程 Z 軸升降系統(tǒng)。

XDLM系列儀器帶有4個可切換準直器，3種可切換的基本濾片，采用比例接收器，測量距離為0-80mm。

使用高分辨率的CCD彩色攝像頭

儀器重量100kg-120kg

儀器使用時溫度范圍10℃-40℃，空氣相對濕度為≤95%，無結露

計算機要求：帶擴展卡的計算機系統(tǒng)

可按要求，提供額外的XDLM型產(chǎn)品更改和XDLM儀器技術咨詢