單晶硅試樣Silicon Test Specimen 返回列表頁

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產(chǎn)品型號(hào)79502-01

品牌

廠商性質(zhì)代理商

所在地上海市

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更新時(shí)間：2022-05-18 22:00:03瀏覽次數(shù)：33次

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產(chǎn)品分類品牌分類

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全部產(chǎn)品列表

產(chǎn)品簡介

單晶硅試樣Silicon Test Specimen
光（電）學(xué)顯微鏡放大倍率校正用單晶硅試樣（同時(shí)評(píng)估圖象扭曲度）。5mm x 5mm見方，每10?m （0.01mm）有一方格，格與格之間分割線大約為1.9?m寬，每隔500?m有一稍寬的分隔線，用于光學(xué)顯微鏡檢測；分隔線和方格由光蝕刻形成，約200nm深。不同樣品均可以直接置于單晶硅試樣上，從而對(duì)光鏡（或者低倍電鏡）進(jìn)行內(nèi)部標(biāo)定。

詳情介紹

單晶硅試樣Silicon Test Specimen

光（電）學(xué)顯微鏡放大倍率校正用單晶硅試樣（同時(shí)評(píng)估圖象扭曲度）。5mm x 5mm見方，每10µm （0.01mm）有一方格，格與格之間分割線大約為1.9µm寬，每隔500µm有一稍寬的分隔線，用于光學(xué)顯微鏡檢測；分隔線和方格由光蝕刻形成，約200nm深。不同樣品均可以直接置于單晶硅試樣上，從而對(duì)光鏡（或者低倍電鏡）進(jìn)行內(nèi)部標(biāo)定。

可根據(jù)掃描電鏡型號(hào)的不同選擇試樣及所帶的樣品臺(tái)。產(chǎn)品選購：

貨號(hào)	產(chǎn)品	規(guī)格
79502-01	Silicon Test Specimen, Unmounted單晶硅試樣	each
79502-10	Silicon Test Specimen, Unmounted	10/pk
79502-12	Silicon Test Specimen on 12.5mm Pin Stub	each
79502-20	Silicon Test Specimen for Incident LM	each
79502-30	Calibration Certificate帶有認(rèn)證書的單晶硅試樣	each